愛克發E7 14*17in工業X射線探傷膠片E714*17in
射線照相法的原理
射線檢測，本質上是利用電磁波或者電磁輻射（X射線和γ射線）的能量。 射線在穿透物體過程中會與物質發生相互作用，因吸收和散射使其強度減弱。強度衰減程度取決于物質的衰減系數和射線在物質中穿透的厚度。
射線照相法的原理：如果被透照物體（工件）的局部存在缺陷，且構成缺陷的物質的衰減系數又不同于試件（例如在焊縫中，氣孔缺陷里面的空氣衰減系數遠遠**鋼的衰減系數），該局部區域的透過射線強度就會與周圍產生差異。把膠片放在適當位置使其在透過射線的作用下感光，經過暗室處理后得到底片。
射線穿透工件后，由于缺陷部位和完好部位的透射射線強度不同，底片上相應部位等會出現黑度差異。射線檢測員通過對底片的觀察，根據其黒度的差異，便能識別缺陷的位置和性質。
以上描述的基本原理和醫院拍X光大同小異。
射線照相法的特點
1、適用范圍 適用于各種熔化焊接方法（電弧焊、氣體保護焊、電渣焊、氣焊等）的對接接頭，也能檢查鑄鋼件，在特殊情況下也可用于檢測角焊縫或其他一些特殊結構工件。
2、射線照相法的優點 a）缺陷顯示直觀：射線照相法用底片作為記錄介質，通過觀察底片能夠比較準確地判斷出缺陷的性質、數量、尺寸和位置。 b）容易檢出那些形成局部厚度差的缺陷：對氣孔和夾渣之類缺陷有很高的檢出率。 c）射線照相能檢出的長度和寬度尺寸分別為毫米數量級和亞毫米數量級，甚至少，且幾乎不存在檢測厚度下限。 d）幾乎適用于所有材料，在鋼、鈦、銅、鋁等金屬材料上使用均能得到良好的效果，該方法對試件的形狀、表面粗糙度沒有嚴格要求，材料晶粒度對其不產生影響。
3、射線照相法的局限 a）對裂紋類缺陷的檢出率則受透照角度的影響，且不能檢出垂直照射方向的薄層缺陷，例如鋼板的分層。 b）檢測厚度上限受射線穿透能力的限制，例如420kV的X射線機能穿透的大鋼厚度約80mm，鈷60放射性同位素（Co60）γ射線穿透的大鋼厚度約150mm，大厚度的工件則需要使用特殊的設備——加速器，其大穿透厚度可達400mm以上。 c）一般不適宜鋼板、鋼管、鍛件的檢測，也較少用于釬焊、摩擦焊等焊接方法的接頭的檢測。 d）射線照相法檢測成本較高，檢測速度較慢。 e）射線對人體有傷害，需要采取防護措施。
膠片屬性
在膠片制造的乳化過程中，乳化方法、速度、溫度、攪動等情況對鹵化銀顆粒的大小、分布起決定性作用，而顆粒的大小、 分布情況又對感光材料的性能起其重要的作用。 一般顆粒越大， 感光度越高； 顆粒越小， 感光度越低。 顆粒尺寸越均勻（即顆粒的均一性越大），反差越高； 顆粒尺寸越不整齊（即顆粒的均一性越小）， 反差越低。
涂布量是指每m2支承體(片基)上涂布的金屬銀量，以g/m2表示。 涂布量直接影響感光材料的照相性能和物化性能， 如Dmax（大黑度）、G（梯度）、機械強度等。
G表示梯度，而平均梯度就是指圖像的邊界或影線兩側附近灰度有明顯差異，即灰度變化率大，這種變化率的大小可用來表示圖像清晰度。它反映了圖像微小細節反差變化的速率，即圖像多維方向上密度變化的速率，表征圖像的相對清晰程度。
顆粒度是指膠片光學密度（黑度）的隨機起伏，它會妨礙射線底片上小黑度差的識別。 如果這種小黑度差總是與試件中的次要細節有關， 顆粒度在射線照相中就無足輕重。 但射線底片上的低對比度細節有可能是試件中裂紋類危險性缺陷的影像， 這些影像就必然與黑度的隨機起伏進行“ 較量”。 “ 較量”結果，前者也可能被后者“ 淹沒”、“ 吞食”。
顆粒度相關于膠片的原始鹵化銀晶體的大小分布，射線能量以及暗室處理條件（顯影配方、溫度、時間、活度等）。表是由國內某感光測試中心提供的有關AGFA D7與 國產T型的一些感官性能測試數據。
AGFA膠片產品
? Structurix D 系列膠片D2/D3/D4/D5/D7/D8—**進口
? Testix C 系列膠片C4/C7，用量和需求大的膠片
? Testix E 系列膠片E7 低成本膠片
? 卷片BLR—長輸管道焊縫檢測
? 常規尺寸： 14*17”， 12*15”， 80*300mm，80*360mm,80mm*305m
? 洗片藥液
? 洗片機/干片機設備
D 系列膠片
AGFA NDT D2 高對比度的細顆粒膠片。要求佳細節重現效果曝光的理想選擇。
AGFA NDT D3 高對比度的*細顆粒膠片。該膠片可獲得為細微的感光性，符合嚴 格的NDT應用要求。適合直接曝光或使用鉛屏，使用兆瓦級設備發出的X射 線、伽馬射線或其他射線。
AGFA NDT D4 高對比度的*細顆粒膠片。適合多種高要求應用。適合直接曝光或使用 鉛屏，使用兆瓦級設備發出的X射線、伽馬射線或其他射線。
AGFA NDT D5 高對比度的細顆粒膠片。顯示不連續性的性能佳。該膠片用于直接 曝光或與鉛屏一同使用，使用X光或伽馬射線。
AGFA NDT D7 高對比度和高速的細顆粒膠片。設計用于直接曝光或使用鉛屏， 使用X光或伽馬射線。
AGFA NDT D8 高對比度和高速度的中等顆粒膠片。適合多種應用。 該膠片可用于直接曝光或與鉛屏一同使用。 其在較短的曝光時間下，可實現良好的圖像質量。
D系列膠片的型號有如下特點：
型號越小的膠片，顆粒度越細，對比度越高，靈敏度越好，清晰度越好，質量性能越好等。但相應的曝光時間也就越長，以及價格也就越高。
C 系列膠片
TESTIX NEW 膠片是為了配合中國市 場的高速發展和成本效益需求，特別 推出的全新系列產品。
TESTIX C4 NEW
膠片的特點是高反差、微料細，配合鉛制增感屏一起，應用于X光、伽馬射線和高能量射線（兆伏）。
TESTIX C7 NEW 細微粒、高反差的**片。可獨立或配鉛制增感屏，用于X光和伽馬射線照相。
沖洗套藥
手工沖洗套藥
AGFA NDT G128顯影液 G128是一種由單一部分組成的液體顯影液，用于工業X光膠片的手工沖洗。其主要優點包括： ? 即使在高環境溫度和高濕度的條件下，仍能保持強大的性能。 ? 濃縮劑存儲時具有的穩定性。
AGFA NDT G328定影液 G328定影劑是一種由倆部分組成的液體定影液，用于工業X光膠片的手工沖洗。 不含任何堅膜劑
自動沖洗標準套藥
AGFA NDT G135顯影液 G135是一種由三部分組成的顯影液，可用于自動和手工沖洗。該顯影液以持久性、穩定性和內在質量著稱，確保了**的感光和物理特性。此外，顯影液還具有自我清潔的特性。
AGFA NDT G135 s起始液 G135 s起始液是一種由倆部分組成的起始液解決方案，建議在換G135顯影液時使用，從一開始就確保佳的射線攝影圖像效果
AGFA NDT G335定影液 G335定影既是一種由倆部分組成的定影液，可用于自動和手工沖洗，存檔性能佳。其配方可防止結晶，降低維護要求，并且適合銀回收。